1. 環境試驗箱簡(jian)介(jie)

高(gao)低溫濕熱(re)試驗箱(xiang)具(ju)有模擬(ni)大(da)氣(qi)環境(jing)中(zhong)溫(wen)度變化規(gui)律，主要針對于電工(gong)，電子產(chan)品，以及其元器(qi)件及其它材(cai)料在(zai)高溫(wen)，低(di)溫(wen)綜合環境(jing)下運輸，使(shi)用時的(de)適應性(xing)試驗。用于產(chan)品設(she)計，改進，鑒定及檢驗等(deng)環節。

低(di)溫(wen)控制(zhi)方式:制(zhi)冷(leng)循環均采用逆卡若循環，該循環由兩個等溫(wen)過程(cheng)(cheng)和兩個絕(jue)(jue)熱過程(cheng)(cheng)組成。其過程(cheng)(cheng)如下:制(zhi)冷(leng)劑經壓縮(suo)機(ji)絕(jue)(jue)熱壓縮(suo)到較高的壓力，消耗(hao)了功使排氣溫(wen)度(du)升高，之后(hou)制(zhi)冷(leng)劑經冷(leng)凝(ning)器等溫(wen)地和四周介(jie)質進行熱交換將(jiang)熱量傳(chuan)給四周介(jie)質。

2.環境試驗箱系統(tong)結構

3.高低溫濕熱試驗箱技術參數

（1）溫度范圍:-40℃～+150℃;

（2）溫度(du)均勻度(du):≤2℃（空(kong)載）;

（3）溫(wen)度波(bo)動(dong)度:≤±0.5℃;

（4）溫(wen)度偏差:≤±2℃（空載）;

（5）升降溫速率:≥1℃/min（全(quan)程平均(jun)、空載） ;

（6）濕度(du)范圍:30%～98%RH（+20℃～+80℃、露點(dian)溫(wen)度(du)+7℃）;

（7）濕(shi)度偏差:a.  ≤75%RH時：≤±5%RH;b.≥75%RH時：-3%RH～+2%RH;

（8）設備總裝機容(rong)量：12.0KW ,其中(zhong)a.加熱(re)功率(lv)：6.0KW,b.加濕功率(lv)：1.5KW,c.制冷壓(ya)縮功率(lv)：6HP×1臺,d.風

    機功(gong)率(lv)：40W×2臺。

    注：風冷(leng)設備測試指標在+25℃條(tiao)件下測試。

4.高(gao)低(di)溫(wen)濕熱試(shi)驗(yan)箱安裝(zhuang)條件

（1）環境溫(wen)度：+5℃～+35℃；

（2）相對濕(shi)度(du)：≤85% RH；

（3）周圍不應有高(gao)濃度粉塵、腐蝕(shi)性氣體(ti)和易(yi)燃易(yi)爆氣氛存在；

（4）電(dian)源(yuan)：AC380V/50Hz/3PH。

5.高低溫(wen)濕熱試驗箱(xiang)售后(hou)服務

（1）設備驗收合格后(hou)，整機免費(fei)保修2年；

（2）保修(xiu)期結束后，生產方提供終身維修(xiu)，而且(qie)只收取零部(bu)件(jian)的成本費；

（3）在接到使用方維修通(tong)知后(hou)24小時內提出解決方案，48小時內趕到現(xian)場處理。

6.高低(di)溫濕(shi)熱試驗(yan)箱參(can)考標準

（1）GB/T5170.2電工(gong)電子產品環境試驗設備(bei)參數檢定方法（溫(wen)度試驗設備(bei)）

（2）GB/T5170.5電工電子產品環境試驗設備參數檢定方法（濕熱(re)試驗設備）

（3）GB2423.1電工電子產品基本環(huan)境試驗規程(cheng)（試驗A低溫試驗方法）

（4）GB2423.2電工電子產品(pin)基本環境(jing)試驗規程(cheng)（試驗B高(gao)溫(wen)試驗方(fang)法）

（5）GB/T2423.3電工(gong)電子產品基(ji)本環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan)規(gui)程（試(shi)(shi)驗(yan)C恒定濕(shi)熱試(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法）

（6）GJB150.3設備環境試驗方法（高溫試驗）

（7）GJB150.4設備環境試驗方法（低溫試驗）

（8）GJB150.9設備環境試驗方法（濕熱試驗）

（9）GB/10586濕熱試驗(yan)箱技術(shu)條件

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